E3-3D 三維定位鍍層測(cè)厚分析儀器是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),專門用于鍍層厚度檢測(cè);其核心部件采用美國進(jìn)口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告;精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國內(nèi)外同類儀器,特別針對(duì)大件異形不平整樣品,無需拆分,直接測(cè)試即可達(dá)到*的測(cè)試效果。 E3-3D 三維定位鍍層測(cè)厚分析儀器產(chǎn)品特點(diǎn): ● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線 ● 輻射標(biāo)志警示 ● 儀器經(jīng)第三方檢測(cè),X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》 硬件技術(shù) ● X射線下照式,激光對(duì)焦可調(diào)樣品倉,對(duì)于異形不平整樣品,無需拆分打磨,可直接測(cè)試 ● 模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響,提高元素分辨率 ● zui小光斑0.2mm,可針對(duì)各種樣品中的小測(cè)試點(diǎn)*定位,避免材質(zhì)干擾,測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確 ● 空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì),加速光管冷卻,有效降低儀器內(nèi)部溫度;靜音設(shè)計(jì) ● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 軟件技術(shù) ● 分析元素:Na~U之間元素 ● 分析時(shí)間:90秒 ● 界面簡(jiǎn)潔,模塊化設(shè)計(jì),功能清晰,易操作 ● 數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原、一鍵清理功能,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全 ● 根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度 ● 配備開放式分析模型功能,客戶可自行建立自己的工作模型。 產(chǎn)品規(guī)格: ●外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (長(zhǎng)x寬x高) ●樣品倉尺寸:360mm×400mm x160(長(zhǎng)x寬x高,高度可定制) ●儀器重量:50kg ●供電電源:AC220V/ 50Hz ●zui大功率:330W ●工作溫度:15-30℃ ●相對(duì)濕度:≤85%,不結(jié)露 配件配置: 探測(cè)器 ● 類型:X123探測(cè)器(*高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器) ● Be窗厚度:1mil ● 晶體面積:25mm2 ● *分辨率:145eV ●信號(hào)處理系統(tǒng):DP5 X射線管 ●電壓:0-50v ●zui大電流;2mA ●zui大功率:50W ●靶材:Mo ●Be窗厚度:0.2mm ●使用壽命:大于2w小時(shí) 高壓電源 ●輸出電壓:0-50Kv ●燈絲電流0-2mA ●zui大功率:50w ●紋波系數(shù):0.1%(p-p值) ●8小時(shí)穩(wěn)定性:0.05% 攝像頭 ●焦距:微焦距 ●驅(qū)動(dòng):免驅(qū)動(dòng) ●像素:500萬像素 準(zhǔn)直器、濾光片 ●系統(tǒng):快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng) ●材質(zhì):多種材質(zhì)準(zhǔn)直器 ●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選 十字激光頭 ●光斑形狀:十字線 ●輸出波長(zhǎng):紅光650nm ●光學(xué)透鏡:玻璃透鏡 ●尺寸:Φ10×30mm ●發(fā)散角度:0.1-2mrad ●工作電壓:DC 5V ●輸出功率:<5mW ●工作溫度:-10~50℃ 其它配件 ●開關(guān)電源:進(jìn)口高性能開關(guān)電源 ●散熱風(fēng)扇:進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇 |