專業(yè)的鍍層測厚儀器E8-SPR 鍍層測厚分析儀器是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),與普通EDXRF相比,分辨率高,其核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù),核心部件采用美國進(jìn)口,軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機(jī)構(gòu)報告;E8-SPR采用小光斑設(shè)計,多種工作模型供選擇,測試數(shù)據(jù)更*,更穩(wěn)定。 E8-SPR 鍍層測厚分析儀器外形特點: ● 儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計,儀器兩側(cè)按成人手臂長度設(shè)計,方便移動、搬運。 ● 上蓋傾斜6度角,寓意對客戶的尊重。 ● 表面采用高檔汽車噴漆工藝,采用寶藍(lán)、雅致白搭配,藍(lán)色代表科技,白色代表圣潔,寓意對科學(xué)的敬仰。 ● 可視化樣品窗。 ● 輻射防護(hù): ● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。 ● 輻射標(biāo)志警示。 ●迷宮式結(jié)構(gòu),防止射線泄漏。 ● 安全連鎖設(shè)計;測試過程中誤打開樣品蓋時,電路0.1μS快速切斷X 儀器經(jīng)第三方檢測,X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)》。 硬件技術(shù): ● 超短光路設(shè)計:提高無鹵檢測分辨率,提高樣品分析效率,降低光管功率,延長儀器使用壽命。 ● 模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對分析元素的影響,提高元素分辨率。 ● 空氣動力學(xué)設(shè)計,加速光管冷卻,有效降低儀器內(nèi)部溫度;靜音設(shè)計。 ● 電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測試標(biāo)準(zhǔn)。 ● 技術(shù)快拆樣品盤,更換薄膜更 軟件技術(shù): ● 分析元素:Na~U之間元素。 ● 分析時間:60秒。 ● 配置RoHS檢測分析模型,無鹵分析 軟件界面簡潔,模塊化設(shè)計,功能清晰,易可配置鍍層測厚模型、玩具指令等模型。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份,一鍵還原功能,保護(hù)用戶數(shù)據(jù)安全。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測試精準(zhǔn)度。 ● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能,客戶建立自己的工作模型。 硬件配置: 探測器 ● 類型:X123探測器(采用*高性能電致冷半導(dǎo)體探測器) ● Be窗厚度:1mil ● 晶體面積:25mm2 ● *分辨率:145eV ● 信號處理系統(tǒng)DP5 X射線管 ● 電 壓 :0~50kV ● zui大電流 :2.0mA ● zui大功率 :50W ● 靶 材 :Mo ● Be窗厚度 :0.2mm ● 使用壽命 :大于2萬小時 高壓電源 ● 輸出電壓:0~50kV ● 燈絲電流:0~2mA ● zui大功率:50W ● 紋波系數(shù):0.1%(p-p 8小時穩(wěn)定性:0.05% 攝像頭 ● 微焦距 ● 500萬像素 準(zhǔn)直器、濾光片 ● 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng) ● 多種材質(zhì)準(zhǔn)直器 ● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選 ● 多種濾光片、準(zhǔn)直器組合,軟件自動切換 其他配件 ●進(jìn)口高性能開關(guān)電源 ●進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇 產(chǎn)品規(guī)格: ● 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (長x寬x高) ● 樣品倉尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (長x寬x高) ● 儀器重量 :33.5kg ● 供電電源 :AC220V/ 50Hz ● zui大功率 :330W ● 工作溫度 :15-30℃ ● 相對濕度 :≤85%,不結(jié)露 應(yīng)用領(lǐng)域: ● 鍍層分析:各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析;鍍層元素含量分析 ●RoHS /ELV指令測試元素:Pb(鉛)、Cd(鎘)、Hg(汞)、Cr(鉻)、Br(溴) ●無鹵檢測:測試元素:Br(溴)、Cl(氯); ●合金分析:鋼鐵、銅類、鋅類等成分分析。 |